法國HI-PHEN植物冠層分析儀

產(chǎn)品型號： Airphen

所屬分類(lèi)：機載型植物冠層分析儀

更新時(shí)間：2018-07-04

簡(jiǎn)要描述：法國HI-PHEN植物冠層分析儀，測量原理基于貝爾定律，結合Norman和Campbell線(xiàn)性小二乘理論?；Norman和Campbell線(xiàn)性小二乘理論所需要的已知參數包括：太陽(yáng)天頂角、冠層下的透光率和葉片的聚集指數，計算出冠層的有效LAI，結合聚集指數推算出真正的有效LAI。太陽(yáng)方位角即太陽(yáng)所在的方位，指太陽(yáng)光線(xiàn)在地平面上的投影與當地子午線(xiàn)的夾角。

聯(lián)系我們 在線(xiàn)咨詢(xún)

法國HI-PHEN植物冠層分析儀特點(diǎn)

    *兩輪設計便于野外快速、輕松獲取數據

    用戶(hù)友好接口、適合大區實(shí)驗

    多角度測量降低直接光照影響

    GPS和羅盤(pán)精確定位測量

法國HI-PHEN植物冠層分析儀如何測量

    太陽(yáng)方位角即太陽(yáng)所在的方位，指太陽(yáng)光線(xiàn)在地平面上的投影與當地子午線(xiàn)的夾角，可近似地看作是豎立在地面上的直線(xiàn)在陽(yáng)光下的陰影與正南方的夾角。反演的過(guò)程其實(shí)就是求解多元方程組，因太陽(yáng)天頂角的個(gè)數必須大于葉傾角在0°到90°內所分的區間個(gè)數，方程組才能解。后根據反演得到的各個(gè)葉傾角區間內的有效LAI，可以得出對應區間的葉傾角概率密度分布情況，當葉傾角區間的個(gè)數越多葉傾角概率密度曲線(xiàn)就越平滑，但還需要通過(guò)線(xiàn)性回歸分析來(lái)確定葉傾角區間個(gè)數是多少時(shí)，反演是優(yōu)秀的。事實(shí)上葉傾角概率密度分布曲線(xiàn)屬于單峰型曲線(xiàn)，無(wú)論區間個(gè)數多少，實(shí)測結果的葉傾角概率分布曲線(xiàn)介于線(xiàn)性小二乘理論反演結果和Campbell函數擬合結果曲線(xiàn)之間。Campbell函數擬合的概率密度要比實(shí)測的要偏小，線(xiàn)性小二乘理論由于得到的是對應葉傾角區間中值的離散結果，反演結果偏大在其他葉傾角區間時(shí)，兩者存在一種互補關(guān)系。

測量葉面積指數與葉傾角分布關(guān)

    葉面積指數和葉傾角分布都是表征植被冠層結構的重要參數，用來(lái)反映植物葉面數量、葉子角度分布、植被群落生命活力及其環(huán)境效應，為植物冠層表面物質(zhì)和質(zhì)量交換的描述提供結構化的定量信息，是植被定量遙感研究中的關(guān)鍵問(wèn)題。LAI是一個(gè)無(wú)量綱度量的參數，其大小與植被種類(lèi)、生長(cháng)期、LAD、葉簇和非生物量等因素有關(guān)。